光學平面度輪廓儀
TopMap Metro.Lab 大視野表面測量系統
TopMap Metro.Lab 大視野表面測量系統

    德國TopMap Metro.Lab 是一種高精度白光干涉儀(相干掃描干涉儀),具有大的垂直范圍和納米分辨率。這意味著 Metro.Lab 外形測量系統非常適合非接觸式測量大面積表面和結構,甚至是柔軟和精密材料的平面度、臺階高度和平行度。

    作為一個完整的測量站,TopMap Metro.Lab 是您想要測量幾乎所有表面上的大面積外形的上乘解決方案。即使在困難條件下,70mm 的大垂直測量范圍也允許您使用亞納米分辨率進行測量。

    由于 TopMap Metro.Lab 物超所值,無論是用于計量實驗室或是靠近生產現場的地方,都非常具有吸引力。它可以處理許多您以前使用觸覺系統進行處理的任務。與所有TopMap系統一樣,開放式的軟件架構還允許您編制常規任務或設置自己的用戶界面。


產品亮點:

    1、由于光學干涉測量原理,它屬于非接觸式
    2、遠心鏡頭讓測量陡峭部分(例如鉆孔)成為可能
    3、70 mm 的范圍,非常靈活
    4、快速測量大面積
    5、增強版的大面積測量范圍可達約 80 x 80 毫米
    6、易于使用的自動化軟件,生成 DIN / ISO 合規性參數
    7、具有智能表面掃描功能,適用于幾乎所有表面,即使是那些具有參差不齊反射率的表面
    8、可集成在防塵防振工作站中,用于機器大廳


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